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耐威科技亮相第五届全国测绘地理信息技术装备展览会

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发布时间:
2015/10/26

  2015年10月22至23日,由中国测绘地理信息学会及国家测绘地理信息局筹办的第五届全国测绘地理信息技术装备展览会在江西南昌国际展览中心举行,该会是我国测绘技术装备领域一年一度的盛会,今年的参会者包括了全国四分之一的省级测绘地理信息局。

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  本届展览会历时两天,主题为“创新,跨界,融合”,展馆分为三大主题,分别是:高新技术与成果专题(领域)、行业(区域) 典型应用、经典测绘地理信息装备及技术。展览会全面展示了测绘地理信息技术在陆、海、空、天、地的应用,包括了从地理信息数据采集、处理到管理、应用的完整工序及产业链,涵盖了硬件和软件、系统集成和解决方案等最新技术及装备,同时展示了跨界融合产生的新技术和新应用。

  此次参展,耐威科技展出了高精度定位定姿系统(POS)及以POS310为基础的移动测量V-MAPPER系统,吸引了众多参观者。

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